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老化试验系列

老化试验箱技术规格


型号:YSA-3 YSA-4 YSA-6

主要参数

  • 温度范围:RT+10~98 ℃
  • 抽屉数量可定制
  • 有数字显示控制器和程序触摸屏控制器选择
  • 适用于半导体IC,晶体管,二极管等,加速寿命老化测试
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产品参数 产品描述 产品特点
型号 YSA-3 YSA-4 YSA-6
测试区尺寸 W×H×D(cm) 10×5.4×26 10×5.4×26 10×5.4×26
外箱尺寸 W×H×D(cm) 53×70.5×54.9 68×70.5×54.9 83×70.5×54.9
温度范围 室温+10℃~98℃
温度波动度 ±0.3℃
温度解析精度 ±0.1℃
升温时间 45 min
外箱材质 SUS#304不锈钢板
内箱材质 SUS#304不锈钢板
隔热材质 玻璃棉
加热系统 SUS#不锈钢高速加热器
控制系统 按键式数显控制器
安全装置 相序保护,超温保护,过载保护
电源 AC 1Ψ 220V 60/50Hz
定制服务 非特殊要求,可定制

适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验
  • 抽屉数量可定制,标准型号有3个或4个抽屉
  • 全SUS 304不锈钢
  • 数显控制器 或者可编程触摸屏可选
  • 配有全自动超温保护及器用水缺水空保护装置
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