老化试验系列

老化试验箱技术规格

型号:YSA-3 YSA-4 YSA-6

主要参数

温度范围：RT+10~98 ℃
抽屉数量可定制
有数字显示控制器和程序触摸屏控制器选择
适用于半导体IC，晶体管，二极管等，加速寿命老化测试

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产品参数产品描述产品特点

型号	YSA-3	YSA-4	YSA-6
测试区尺寸 W×H×D(cm)	10×5.4×26	10×5.4×26	10×5.4×26
外箱尺寸 W×H×D(cm)	53×70.5×54.9	68×70.5×54.9	83×70.5×54.9
温度范围	室温+10℃～98℃
温度波动度	±0.3℃
温度解析精度	±0.1℃
升温时间	45 min
外箱材质	SUS#304不锈钢板
内箱材质	SUS#304不锈钢板
隔热材质	玻璃棉
加热系统	SUS#不锈钢高速加热器
控制系统	按键式数显控制器
安全装置	相序保护，超温保护，过载保护
电源	AC 1Ψ 220V 60/50Hz
定制服务	非特殊要求，可定制

适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验

抽屉数量可定制，标准型号有3个或4个抽屉
全SUS 304不锈钢
数显控制器或者可编程触摸屏可选
配有全自动超温保护及器用水缺水空保护装置

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