老化试验系列
PCT高压加速老化试验箱
型号:应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间
主要参数
1.PCT老化箱采用最新优化设计,美观大方,做工精细。
2.采用大容量水箱,试验时间长,不中断。
3.采用进口SHIMAX”智能温控器,具有精度高,控制稳定特点(依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏,USB曲线数据下载功能,和通讯功能)。